E din iec 55 co 367 1989 01 1 1 1989

Pro vyhledávací frázi E din iec 55 co 367 1989 01 1 1 1989 jsme na našem vyhledávači našli 14 výsledků. Nenašli jste přesně to, co jste hledali? Zkuste frázi E din iec 55 co 367 1989 01 1 1 1989 trochu pozměnit a opět zadat do vyhledávacího pole. Pevně věříme, že produkt, který hledáte v naší nabídce na srovnávači CoChceš.cz naleznete!

Nalezeno 14 produktů

E DIN IEC 55(CO)367:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 55(CO)367:1989-01 Methods of test for winding wires; part 5: electrical properties, item 6; test 19, dielectric loss tangent (tan (delta)); identical with IEC 55(Central Office)367.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 84(CO)55:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 84(CO)55:1989-01 ENG equipment; interfaces; identical with IEC 84(Central Office)55.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 55(CO)372:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 55(CO)372:1989-01 Packaging of winding wires; cylindrical barrelled delivery spools; specification for non-returnable spools made from thermoplastic material; identical with IEC 55(Central Office)372.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 55(CO)373:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 55(CO)373:1989-01 Packaging of winding wires; taper barrelled delivery spools; specification for non-returnable spools made from thermoplastic material; identical with IEC 55(Central Office)373.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 55(CO)374:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 55(CO)374:1989-01 Packaging of winding wires; taper barrelled delivery spools; basic dimensions of containers for taper barrelled delivery spools; identical with IEC 55(Central Office)374.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 1(CO)1262-702:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 1(CO)1262-702:1989-01 International electrotechnical vocabulary; chapter 702 of IEV: oscillations, signals and related devices; identical with IEC 1(IEV 702)(Central Office)1262-I to III and IEC 1(IEV 702)(Central Office)1279.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 47A(CO)168:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 47A(CO)168:1989-01 Analogue integrated circuits; measuring methods; common-mode input voltage range; identical with IEC 47A(Central Office)168.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 47(CO)1037:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 47(CO)1037:1989-01 Semiconductor devices; amendment to the sectional specification for integrated circuits; subgroups B5, C5, C7; identical with IEC 47(Central Office)1037.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 47(CO)1041:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 47(CO)1041:1989-01 Semiconductor devices; measuring method of transition time for snap-off- diodes; identical with IEC 47(Central Office)1041.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 47(CO)1044:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 47(CO)1044:1989-01 Digital integrated circuits; terms and description of test patterns for memory testing; identical with IEC 47(Central Office)1044.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 47(CO)1049:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 47(CO)1049:1989-01 Semiconductor devices; supplement to the sectional specification for integrated circuits; correlated measurements; identical with IEC 47/47A(Central Office)1049/173.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 47(CO)1082:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 47(CO)1082:1989-01 Semiconductor devices; measuring method for radiant power or forward current of LEDs, IREDs and laser diodes; identical with IEC 47(Central Office)1082.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 47A(CO)181:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 47A(CO)181:1989-01 Semiconductor devices; sectional specification for integrated film and hybrid circuits; qualification approval procedure; identical with IEC 47A(Central Office)181.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů

E DIN IEC 50(CO)214:1989-01 1.1.1989

Neplatná norma E DIN IEC 50(CO)214:1989-01 Electrical engineering; basic environmental testing procedures; test Ue: robustness of terminations of surface mounting devices (SMD) and of their solder joints; amendment to IEC 60068-2-21; identical with IEC 50(Central Office)214.

Více informací
Dostupnost: do 7 dnů
Používáme cookies, abychom mohli provozovat tuto internetovou stránku a zlepšit Vaši uživatelskou spokojenost. Budete-li pokračovat beze změny nastavení, předpokládáme, že souhlasíte s ukládáním souborů cookies z internetových stránek. Více informací o použití cookies.
OK