E ove en 60749 28 1 5 2016
E OVE EN 60749-28 1.5.2016
Neplatná norma E OVE EN 60749-28 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 47/2281/CDV) (english version)
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E OVE EN 60749-5 1.10.2016
Neplatná norma E OVE EN 60749-5 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 47/2311/CDV) (english version)
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E ÖVE/ÖNORM EN 60749-28 1.5.2004
Platná norma E ÖVE/ÖNORM EN 60749-28 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) (IEC 47/1751/CDV)
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Podobné fráze: ove onorm en 60749 29 1 3 2012 | ove onorm en 60749 34 1 7 2011 | e din en 60749 28 2012 07 1 7 2012 | e ove en 50290 2 36 1 5 2016 | ove en 61784 5 10 1 5 2016 | ove en 50632 1 1 5 2016 | ove en 61338 1 5 1 5 2016 | e ove en 63044 1 15 5 2016 | e ove en 60077 1 1 5 2016 | e ove en 50121 3 1 1 8 2016 | ove en 50632 2 22 1 5 2016 | ove en 61340 5 3 1 5 2016 | ove en 61169 52 1 5 2016 | ove en 60601 1 11 1 5 2016 | ove en 50122 1 1 12 2016 | e ove en 60810 a1 1 5 2016 | e ove en 62944 1 5 2016 | e ove en 62822 3 1 5 2016 | e ove en 62927 1 5 2016 | e ove en 50271 1 7 2016 | e ove en 50600 4 3 15 7 2016 | e ove en 50134 2 15 6 2016 | e ove en 50663 15 8 2016 | ove en 50290 2 37 1 12 2016 | ove en 50416 1 11 2016 | ove en 60143 1 1 5 2016 | ove en 50156 1 1 4 2016 | ove en 60862 1 1 5 2016 | ove en 60851 2 1 5 2016 | ove en 50617 2 1 6 2016 | ove en 50090 4 3 1 4 2016 | ove en 60317 0 9 1 5 2016 | ove en 60335 2 58 1 8 2016 | ove en 61804 3 1 5 2016 | ove en 60601 2 62 1 5 2016