E ove onorm en 60749 24 1 3 2003

Nalezeno 4 produkty

E ÖVE/ÖNORM EN 60749-24 1.3.2003

Neplatná norma E ÖVE/ÖNORM EN 60749-24 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - unbiased HAST (IEC 47/1673/CDV)

Více informací
Dostupnost: skladem

E ÖVE/ÖNORM EN 60749-23 1.3.2003

Neplatná norma E ÖVE/ÖNORM EN 60749-23 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 47/1671/CDV)

Více informací
Dostupnost: skladem

E ÖVE/ÖNORM EN 60749-33 1.3.2003

Neplatná norma E ÖVE/ÖNORM EN 60749-33 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 47/1675/CDV)

Více informací
Dostupnost: skladem

E ÖVE/ÖNORM EN 60749-34 1.3.2003

Neplatná norma E ÖVE/ÖNORM EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 47/1677/CDV)

Více informací
Dostupnost: skladem
Používáme cookies, abychom mohli provozovat tuto internetovou stránku a zlepšit Vaši uživatelskou spokojenost. Budete-li pokračovat beze změny nastavení, předpokládáme, že souhlasíte s ukládáním souborů cookies z internetových stránek. Více informací o použití cookies.
OK